一、固態硬盤壽命多久

固態硬盤具有(you)擦寫次(ci)(ci)數限(xian)制(zhi)的(de)問題(ti)，所以(yi)(yi)說固(gu)(gu)態硬盤是有(you)壽(shou)命限(xian)制(zhi)的(de)。固(gu)(gu)態硬盤內部(bu)閃存完(wan)全擦寫一(yi)次(ci)(ci)叫(jiao)做1次(ci)(ci)P/E，因(yin)此(ci)固(gu)(gu)態硬盤的(de)壽(shou)命就以(yi)(yi)P/E作單位。

固態硬盤(pan)壽命主要(yao)是(shi)擦寫次(ci)(ci)數、容(rong)(rong)量決定(ding)的(de)，而不(bu)同(tong)容(rong)(rong)量以及不(bu)同(tong)顆(ke)(ke)粒(li)(li)，擦寫次(ci)(ci)數也不(bu)是(shi)不(bu)同(tong)的(de)。目(mu)(mu)前(qian)市(shi)面上的(de)固態硬盤(pan)有(you)SLC、MLC、TLC、QLC四種顆(ke)(ke)粒(li)(li)，目(mu)(mu)前(qian)SLC顆(ke)(ke)粒(li)(li)成(cheng)本較(jiao)高(gao)，容(rong)(rong)量較(jiao)小(xiao)，比較(jiao)少見，MLC多數定(ding)位(wei)高(gao)端產品中(zhong)，TLC是(shi)目(mu)(mu)前(qian)市(shi)場主流顆(ke)(ke)粒(li)(li)，而QLC顆(ke)(ke)粒(li)(li)壽命最短(duan)，但是(shi)成(cheng)本較(jiao)小(xiao)，容(rong)(rong)量較(jiao)大。

SLC顆(ke)粒理(li)(li)(li)論(lun)擦寫(xie)次(ci)(ci)數(shu)在(zai)10萬次(ci)(ci)以上(shang)P/E，MLC顆(ke)粒理(li)(li)(li)論(lun)擦寫(xie)次(ci)(ci)數(shu)在(zai)3000-5000次(ci)(ci)P/E左右，TLC顆(ke)粒理(li)(li)(li)論(lun)擦寫(xie)次(ci)(ci)數(shu)在(zai)1000-3000次(ci)(ci)P/E不等，而QLC顆(ke)粒理(li)(li)(li)論(lun)擦寫(xie)次(ci)(ci)數(shu)僅(jin)150次(ci)(ci)P/E。

固態硬(ying)盤的使用壽命=（實(shi)際容(rong)量(liang)（單位：GB）×P/E數）÷（每(mei)天寫(xie)入容(rong)量(liang)（單位：GB/天）×寫(xie)入放大×365（單位：天））。

舉個例子吧，假設(she)1個500G的TLC顆粒(li)固態硬(ying)盤（理論(lun)擦(ca)寫(xie)(xie)(xie)以最少1000次(ci)P/E計），按照每天擦(ca)寫(xie)(xie)(xie)100G，也(ye)就(jiu)是(shi)它的壽命=1000*500/100/365=13.7年(nian)，還(huan)有這個寫(xie)(xie)(xie)入次(ci)數也(ye)是(shi)理論(lun)上的，超(chao)出也(ye)不一定(ding)會壞，而且你(ni)每天也(ye)不可(ke)能擦(ca)寫(xie)(xie)(xie)100G。

所(suo)以(yi)，理論(lun)(lun)數據(ju)僅供參(can)考，有的固態硬(ying)盤(pan)還沒(mei)到理論(lun)(lun)壽(shou)命(ming)，就壞了，有的固態硬(ying)盤(pan)超過理論(lun)(lun)壽(shou)命(ming)，依然堅挺，所(suo)以(yi)大家無(wu)需(xu)擔心固態硬(ying)盤(pan)的使用壽(shou)命(ming)問題。

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二、固態硬盤壽命到期表現

現(xian)在的(de)(de)SSD管(guan)理管(guan)理芯(xin)片以(yi)及閃存技術都有不(bu)(bu)小的(de)(de)進步，如果超過了(le)SSD的(de)(de)使用壽命，不(bu)(bu)必擔心(xin)數據，因為(wei)最多只是(shi)不(bu)(bu)能寫入了(le)，但是(shi)數據都還在，是(shi)可以(yi)讀取的(de)(de)。

雖然現在(zai)的SSD即(ji)使有(you)壽(shou)命限(xian)制，但也足夠用5-10年(nian)。

三、SSD固態硬盤使用壽命檢測方法

目(mu)前很(hen)多固態(tai)硬盤工具，都(dou)具備壽(shou)命檢測功能，下面(mian)分享(xiang)幾款軟件，供大家參考。

1、CrystalDiskInfo

CrystalDiskInfo是(shi)一(yi)款硬(ying)盤(pan)檢(jian)測(ce)工具，只要(yao)在裝(zhuang)了SSD的(de)電腦上(shang)，安裝(zhuang)運行CrystalDiskInfo軟(ruan)(ruan)件，即可檢(jian)測(ce)到硬(ying)盤(pan)信息。我們打開CrystalDiskInfo軟(ruan)(ruan)件檢(jian)測(ce)了intel某型號的(de)固態(tai)硬(ying)盤(pan)，在健康的(de)欄目中(zhong)，檢(jian)測(ce)該固態(tai)陰干剩余壽命還(huan)有92%。

固態硬盤的磨損程(cheng)度實(shi)際上(shang)是由NAND寫(xie)(xie)入(ru)量(liang)決定，NAND寫(xie)(xie)入(ru)量(liang)受主(zhu)機寫(xie)(xie)入(ru)和(he)寫(xie)(xie)入(ru)放(fang)大率的共(gong)同(tong)影(ying)響，不(bu)過很(hen)多固態硬盤并沒(mei)有提供NAND寫(xie)(xie)入(ru)量(liang)的具體(ti)數值。

2、SSD廠商工具

不同(tong)硬(ying)盤(pan)(pan)檢(jian)測工具(ju)，檢(jian)測的SSD剩余壽命數值也可(ke)能(neng)有所不同(tong)，我們來使用為Intel固(gu)態(tai)驅動器工具(ju)來檢(jian)測固(gu)態(tai)硬(ying)盤(pan)(pan)壽命，而壽命數值僅為67%。

3、M.2固態硬盤壽命檢測

發展(zhan)到(dao)NVMe固態(tai)硬盤后(hou)，SMART健(jian)(jian)康度信(xin)息終(zhong)于統一(yi)了標準。這是(shi)東芝RC100 240G NVMe固態(tai)硬盤的CrystalDiskMark檢測信(xin)息：健(jian)(jian)康狀態(tai)是(shi)由03 Available Spare可用(yong)備用(yong)空間(jian)來確定，備用(yong)塊(kuai)剩余(yu)100%，故而顯示當前(qian)剩余(yu)壽(shou)命100%。

而通過東芝(zhi)SSD Utility固態硬盤(pan)工(gong)具箱，可以(yi)查看到這(zhe)塊RC100 NVMe固態硬盤(pan)的健康度(du)為97%。

97%這個數值是根據主機寫入(ru)量占(zhan)廠商標定的(de)(de)固態硬盤總寫入(ru)量（TBW）百分比得出的(de)(de)，展現在(zai)SMART信息05 Percentage Used當中(zhong)。下圖是東(dong)芝(zhi)RC100的(de)(de)TBW信息，它是按照(zhao)JEDEC標準來計(ji)算的(de)(de)，比實(shi)際家用使用強(qiang)度更(geng)大(da)更(geng)嚴格。

到了NVMe固態硬(ying)(ying)盤時代之(zhi)后，不同硬(ying)(ying)盤檢(jian)(jian)測軟(ruan)件對健康度的檢(jian)(jian)測結果(guo)依然不一(yi)樣，哪(na)個結果(guo)更準確呢？小編(bian)認為，固態硬(ying)(ying)盤廠商提(ti)供的工具(ju)箱軟(ruan)件檢(jian)(jian)測相(xiang)對最科學。

雖然基(ji)于(yu)固定(ding)TBW的(de)百分比計算比較死(si)板(ban)，但相比按備用塊消耗程度來預計壽(shou)命的(de)方法更可靠。

以上就是使用工具檢測固態硬盤壽(shou)命方(fang)法(fa)，不同工具(ju)檢測的(de)結構有所不同，因(yin)此(ci)數(shu)(shu)值僅供參考，不一定完全準確。當(dang)然(ran)，如(ru)果多款硬盤檢測工具(ju)都顯(xian)示您的(de)SSD壽(shou)命快用盡，這(zhe)個時候就需要注意，SSD真(zhen)的(de)可能快壞了(le)，請及時備份重要數(shu)(shu)據(ju)到其他硬盤或(huo)者(zhe)U盤上，以(yi)免因(yin)SSD損(sun)壞，數(shu)(shu)據(ju)丟(diu)失(shi)。