一、固態硬盤壽命多久
固態硬盤具有(you)擦寫次數限(xian)制的問題(ti),所(suo)以說固(gu)態(tai)硬盤是有(you)壽(shou)(shou)命限(xian)制的。固(gu)態(tai)硬盤內(nei)部閃存完全擦寫一(yi)次叫做1次P/E,因此固(gu)態(tai)硬盤的壽(shou)(shou)命就以P/E作單(dan)位。
固(gu)(gu)態硬盤壽(shou)命主(zhu)要是(shi)擦(ca)寫次數(shu)(shu)、容(rong)(rong)量決定(ding)的(de),而(er)不同(tong)(tong)容(rong)(rong)量以及(ji)不同(tong)(tong)顆粒(li),擦(ca)寫次數(shu)(shu)也不是(shi)不同(tong)(tong)的(de)。目前(qian)市(shi)面上的(de)固(gu)(gu)態硬盤有(you)SLC、MLC、TLC、QLC四(si)種顆粒(li),目前(qian)SLC顆粒(li)成本較(jiao)高,容(rong)(rong)量較(jiao)小(xiao),比較(jiao)少(shao)見(jian),MLC多數(shu)(shu)定(ding)位高端產品(pin)中,TLC是(shi)目前(qian)市(shi)場主(zhu)流顆粒(li),而(er)QLC顆粒(li)壽(shou)命最短,但是(shi)成本較(jiao)小(xiao),容(rong)(rong)量較(jiao)大。
SLC顆粒(li)理論(lun)擦(ca)寫次(ci)(ci)(ci)數(shu)在(zai)10萬次(ci)(ci)(ci)以上P/E,MLC顆粒(li)理論(lun)擦(ca)寫次(ci)(ci)(ci)數(shu)在(zai)3000-5000次(ci)(ci)(ci)P/E左右,TLC顆粒(li)理論(lun)擦(ca)寫次(ci)(ci)(ci)數(shu)在(zai)1000-3000次(ci)(ci)(ci)P/E不等,而QLC顆粒(li)理論(lun)擦(ca)寫次(ci)(ci)(ci)數(shu)僅150次(ci)(ci)(ci)P/E。
固(gu)態硬盤的使(shi)用壽命=(實際容(rong)量(單(dan)(dan)位:GB)×P/E數)÷(每(mei)天寫入容(rong)量(單(dan)(dan)位:GB/天)×寫入放大×365(單(dan)(dan)位:天))。
舉個例子吧(ba),假設(she)1個500G的(de)TLC顆粒固(gu)態硬盤(pan)(理論擦(ca)寫以(yi)最少1000次(ci)P/E計),按(an)照每天(tian)擦(ca)寫100G,也(ye)就是它的(de)壽(shou)命=1000*500/100/365=13.7年,還有這個寫入次(ci)數也(ye)是理論上(shang)的(de),超出(chu)也(ye)不一定(ding)會壞,而(er)且你每天(tian)也(ye)不可能擦(ca)寫100G。
所(suo)以(yi),理論數據(ju)僅供參考,有(you)的固態(tai)硬(ying)盤(pan)還沒到理論壽命,就壞了,有(you)的固態(tai)硬(ying)盤(pan)超(chao)過理論壽命,依然堅挺,所(suo)以(yi)大(da)家無需擔(dan)心固態(tai)硬(ying)盤(pan)的使用壽命問題(ti)。
二、固態硬盤壽命到期表現
現在(zai)的(de)(de)SSD管(guan)理(li)管(guan)理(li)芯片以(yi)及(ji)閃存技術都(dou)有不(bu)(bu)小的(de)(de)進(jin)步,如果超過了SSD的(de)(de)使(shi)用壽命(ming),不(bu)(bu)必擔心數(shu)據,因為(wei)最多(duo)只(zhi)是(shi)不(bu)(bu)能寫入了,但是(shi)數(shu)據都(dou)還在(zai),是(shi)可以(yi)讀(du)取的(de)(de)。
雖然(ran)現在的SSD即使(shi)有(you)壽命限制,但(dan)也足夠(gou)用(yong)5-10年。
三、SSD固態硬盤使用壽命檢測方法
目前很(hen)多固態硬(ying)盤(pan)工具,都具備壽命檢測功能,下面分享幾款軟(ruan)件,供大(da)家(jia)參考(kao)。
1、CrystalDiskInfo
CrystalDiskInfo是一(yi)款硬盤(pan)檢(jian)測(ce)工具,只要在(zai)裝了(le)SSD的(de)(de)電腦上,安裝運行CrystalDiskInfo軟件,即可檢(jian)測(ce)到硬盤(pan)信息。我們打開CrystalDiskInfo軟件檢(jian)測(ce)了(le)intel某型號的(de)(de)固態(tai)硬盤(pan),在(zai)健康的(de)(de)欄目中,檢(jian)測(ce)該固態(tai)陰干剩余壽(shou)命(ming)還(huan)有92%。
固(gu)態(tai)硬盤的磨損(sun)程度實際上是(shi)由NAND寫(xie)入量(liang)決定,NAND寫(xie)入量(liang)受主機寫(xie)入和寫(xie)入放大率(lv)的共同影(ying)響,不過很多固(gu)態(tai)硬盤并(bing)沒有提供NAND寫(xie)入量(liang)的具體數值。
2、SSD廠商工具
不同硬盤檢(jian)(jian)測(ce)工具(ju),檢(jian)(jian)測(ce)的SSD剩余壽(shou)命數值(zhi)也(ye)可(ke)能有所不同,我們(men)來(lai)使(shi)用(yong)為(wei)Intel固態(tai)驅動器工具(ju)來(lai)檢(jian)(jian)測(ce)固態(tai)硬盤壽(shou)命,而(er)壽(shou)命數值(zhi)僅為(wei)67%。
3、M.2固態硬盤壽命檢測
發展到NVMe固(gu)態(tai)硬盤(pan)后,SMART健(jian)康(kang)度信息終(zhong)于統一了標準。這(zhe)是東(dong)芝(zhi)RC100 240G NVMe固(gu)態(tai)硬盤(pan)的CrystalDiskMark檢測信息:健(jian)康(kang)狀態(tai)是由03 Available Spare可用備用空(kong)間來確定,備用塊剩余100%,故而顯示當(dang)前剩余壽命100%。
而(er)通過(guo)東(dong)芝SSD Utility固態(tai)硬(ying)盤(pan)工具箱,可以(yi)查看到這塊(kuai)RC100 NVMe固態(tai)硬(ying)盤(pan)的健(jian)康(kang)度為97%。
97%這(zhe)個(ge)數值是(shi)根據主機寫入(ru)量(liang)占(zhan)廠商標定的固(gu)態硬盤總寫入(ru)量(liang)(TBW)百分比得出(chu)的,展現在(zai)SMART信(xin)息05 Percentage Used當(dang)中(zhong)。下圖是(shi)東(dong)芝RC100的TBW信(xin)息,它是(shi)按照JEDEC標準(zhun)來計算的,比實際家用使(shi)用強度更大更嚴格。
到了NVMe固(gu)態硬(ying)(ying)盤時(shi)代之后,不同硬(ying)(ying)盤檢(jian)測(ce)(ce)軟件對健康度的檢(jian)測(ce)(ce)結(jie)果依然不一樣(yang),哪個結(jie)果更準確呢(ni)?小編認(ren)為(wei),固(gu)態硬(ying)(ying)盤廠商提供的工(gong)具箱軟件檢(jian)測(ce)(ce)相對最科(ke)學。
雖(sui)然基于固定TBW的(de)百分比(bi)計(ji)算比(bi)較死板(ban),但相比(bi)按備(bei)用塊消(xiao)耗程度(du)來(lai)預計(ji)壽(shou)命的(de)方法(fa)更(geng)可靠。
以上就是使用工具檢測固態硬盤壽(shou)(shou)命方法,不同工具(ju)檢(jian)測的(de)結構有所不同,因此數值僅供參(can)考,不一定完全(quan)準確(que)。當然(ran),如果(guo)多(duo)款硬(ying)盤(pan)檢(jian)測工具(ju)都顯示您的(de)SSD壽(shou)(shou)命快用盡,這個時候(hou)就需要(yao)注意,SSD真的(de)可(ke)能快壞(huai)了,請及時備份(fen)重要(yao)數據(ju)到其(qi)他(ta)硬(ying)盤(pan)或者U盤(pan)上,以免因SSD損壞(huai),數據(ju)丟失(shi)。