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光譜儀的種類有哪些 光譜儀的結構及功能

本文章由注冊用戶 天空之城 上傳提供 2023-09-29 評論 0
摘要:光譜儀又稱分光儀,是一種利用金屬折射光進行檢測的設備,它由一個入射狹縫,一個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。光譜儀的種類有很多,除在可見光波段使用的光譜儀外,還有紅外光譜儀和紫外光譜儀。按色散元件的不同可分為棱鏡光譜儀、光柵光譜儀和干涉光譜儀等。

一、光譜儀的種類有哪些

光譜儀的種類很多,分(fen)類方法(fa)也很多,根據光(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(yi)(yi)所采用的分(fen)解光(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)的原(yuan)(yuan)理,可以將其分(fen)成兩大(da)類:經典(dian)光(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(yi)(yi)和新型光(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(yi)(yi)。經典(dian)光(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(yi)(yi)是(shi)建立(li)在(zai)空間色(se)散(san)(分(fen)光(guang)(guang))原(yuan)(yuan)理上的儀(yi)(yi)(yi)器;新型光(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(yi)(yi)是(shi)建立(li)在(zai)調(diao)(diao)制原(yuan)(yuan)理上的儀(yi)(yi)(yi)器,故(gu)又稱為調(diao)(diao)制光(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(yi)(yi)。

經典光(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)依(yi)據其(qi)色散原理可(ke)將儀(yi)(yi)器分為:棱(leng)鏡光(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)、衍(yan)射光(guang)柵光(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)、干涉(she)光(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)。

根據光譜儀器所能正常工作的光譜范圍,光譜儀可分為:真空紫外(遠紫外)光譜儀(6~200nm)、紫外光譜儀(185~400nm)、可見光光譜儀(380~780nm)、近紅外光(guang)(guang)譜儀(780nm~2.5μm)、紅外光(guang)(guang)譜儀(2.5~50μm)、遠紅外光(guang)(guang)譜儀(50μm~1mm)。

按(an)探測(ce)方法分(fen),有直(zhi)接用(yong)眼觀察的(de)分(fen)光(guang)(guang)鏡,用(yong)感光(guang)(guang)片記錄的(de)攝譜儀(yi)(yi),以及用(yong)光(guang)(guang)電或熱電元(yuan)件(jian)探測(ce)光(guang)(guang)譜的(de)分(fen)光(guang)(guang)光(guang)(guang)度計等。單色(se)儀(yi)(yi)是通過狹(xia)縫只(zhi)輸出單色(se)譜線的(de)光(guang)(guang)譜儀(yi)(yi)器(qi),常與其他分(fen)析(xi)儀(yi)(yi)器(qi)配合(he)使用(yong)。

該圖片由注冊用戶"天空之城"提供,版權聲明反饋

二、光譜儀的結構及功能

一臺典型的光譜儀主(zhu)要由一個光學平臺和一個檢測(ce)系統組(zu)成。包括以下幾(ji)個主(zhu)要部分:

1、入(ru)(ru)射狹縫(feng):在入(ru)(ru)射光的照射下(xia)形成光譜儀成像系(xi)統的物點。

2、準直元件(jian):使狹縫發(fa)出(chu)的(de)光(guang)線變為平行光(guang)。該準直元件(jian)可以(yi)是一獨立的(de)透鏡、反射(she)鏡、或(huo)直接集(ji)成(cheng)在(zai)色(se)散(san)元件(jian)上,如(ru)凹面(mian)(mian)光(guang)柵(zha)光(guang)譜儀中的(de)凹面(mian)(mian)光(guang)柵(zha)。

3、色散(san)元件:通常采用光(guang)柵,使光(guang)信號在空間上(shang)按波長分(fen)散(san)成為(wei)多條(tiao)光(guang)束。

4、聚(ju)焦(jiao)元件:聚(ju)焦(jiao)色散后(hou)的光束,使其在焦(jiao)平面上形(xing)成一系列入射狹縫的像,其中每(mei)一像點對應于一特定波長。

5、探測(ce)器陣列(lie)(lie)(lie):放置于焦平面,用(yong)于測(ce)量各波長像點的光強度(du)。該探測(ce)器陣列(lie)(lie)(lie)可以是CCD陣列(lie)(lie)(lie)或其它種類的光探測(ce)器陣列(lie)(lie)(lie)。

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