一、x射線熒光光譜儀測什么的

X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快(kuai)速(su)的(de)(de)(de)、非破壞式(shi)的(de)(de)(de)物質(zhi)測量(liang)方法(fa)。X射(she)(she)線(xian)熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量(liang)X射(she)(she)線(xian)或伽瑪射(she)(she)線(xian)轟擊材(cai)料時激發(fa)出(chu)(chu)的(de)(de)(de)次級X射(she)(she)線(xian)。XRF用X光或其他激發(fa)源照(zhao)射(she)(she)待(dai)分析(xi)樣(yang)品(pin)，樣(yang)品(pin)中(zhong)的(de)(de)(de)元(yuan)素(su)之內層(ceng)電(dian)子被(bei)擊出(chu)(chu)后，造成核外(wai)電(dian)子的(de)(de)(de)躍遷，在(zai)被(bei)激發(fa)的(de)(de)(de)電(dian)子返回基態的(de)(de)(de)時候，會(hui)放射(she)(she)出(chu)(chu)特(te)征(zheng)X光；不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)元(yuan)素(su)會(hui)放射(she)(she)出(chu)(chu)各自的(de)(de)(de)特(te)征(zheng)X光，具有不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)能量(liang)或波長特(te)性。檢測器（Detector）接受(shou)這些X光，儀器軟(ruan)件系統將其轉為對應的(de)(de)(de)信號(hao)。這一現象廣泛用于元(yuan)素(su)分析(xi)和(he)(he)化學(xue)分析(xi)，特(te)別(bie)是在(zai)研究金(jin)屬，玻璃，陶瓷和(he)(he)建筑材(cai)料，以及在(zai)地球(qiu)化學(xue)研究、法(fa)醫學(xue)、電(dian)子產品(pin)進料品(pin)管(guan)（EURoHS）和(he)(he)考古(gu)學(xue)等(deng)領域，在(zai)某種程度上(shang)與原子吸(xi)收光譜儀互補，減少工廠附設的(de)(de)(de)品(pin)管(guan)實驗室之分析(xi)人力投入。

該圖片由注冊用戶"天空之城"提供，版權聲明反饋

二、X射線熒光光譜儀如何檢測樣品中的金屬元素

當使用X射線光(guang)照樣品時，樣品可以被激發(fa)出各種波長的(de)熒光(guang)X射線，把混合的(de)X射線按波長（或能量）分開，分別測量不(bu)同(tong)波長（或能量）的(de)X射線的(de)強度(du)，就可以進行定性(xing)和定量分析，為此使用的(de)儀器(qi)為X射線熒光(guang)光(guang)譜儀（以下簡稱(cheng)XRF）。

實(shi)驗(yan)室如何利用XRF這種(zhong)較為成熟(shu)的(de)分析(xi)(xi)技術檢測固體(ti)樣(yang)品中(zhong)的(de)金屬元素？實(shi)驗(yan)室將拿到的(de)試(shi)樣(yang)過200目篩，按照(zhao)提供(gong)的(de)方(fang)法進行制樣(yang)，從中(zhong)選(xuan)擇能覆蓋分析(xi)(xi)元素含量范圍(wei)并具有(you)一定(ding)梯度的(de)樣(yang)品，經化學方(fang)法準確(que)定(ding)值后(hou)，與同樣(yang)粒度的(de)3個(ge)標準樣(yang)品一起分別(bie)壓片用于建立工作曲線(xian)。

方法采用壓(ya)(ya)片(pian)法，根據不同的(de)壓(ya)(ya)力(li)對樣(yang)品(pin)進(jin)行壓(ya)(ya)片(pian)，做(zuo)壓(ya)(ya)力(li)與(yu)樣(yang)品(pin)元素強度(du)試(shi)驗，確(que)定壓(ya)(ya)力(li)和保壓(ya)(ya)時間。（分析合金樣(yang)品(pin)過(guo)(guo)程中粒度(du)效應是影響(xiang)熒光光譜儀結(jie)果(guo)的(de)主要主要因素之一(yi)，需(xu)要通過(guo)(guo)固定破碎試(shi)樣(yang)的(de)克數與(yu)研(yan)磨時間來保持試(shi)樣(yang)與(yu)分析試(shi)樣(yang)粒度(du)一(yi)致，確(que)定研(yan)磨時間。）

輸入各(ge)元(yuan)素的(de)(de)化學(xue)值(zhi)，用熒光(guang)光(guang)譜儀(yi)測定(ding)其(qi)強度(du)，以(yi)元(yuan)素化學(xue)值(zhi)為橫坐(zuo)標(biao)，強度(du)為縱坐(zuo)標(biao)，分別建立一次作曲線，并(bing)得到(dao)相應的(de)(de)的(de)(de)回(hui)歸情況，得到(dao)結果(guo)元(yuan)素的(de)(de)相對(dui)標(biao)準(zhun)偏差RSD<1％，這表明用XRF測定(ding)這些固體樣品金(jin)屬元(yuan)素有很(hen)好的(de)(de)分析精度(du)。整個(ge)檢(jian)測過程快速、準(zhun)確，不需要(yao)化學(xue)方法(fa)對(dui)樣品進(jin)行前處(chu)理，同時可以(yi)實現多元(yuan)素分析，并(bing)可以(yi)替代復雜的(de)(de)檢(jian)測方法(fa)。

XRF適合(he)用(yong)于(yu)元素分析和化(hua)學(xue)分析，理(li)論上可以測定元素周期表中從F-U（除去惰性氣體一族）的(de)元素，分析范圍(wei)廣(guang)，可分析濃度范圍(wei)從1μg/g～100%。可用(yong)于(yu)（但不(bu)限于(yu)）實(shi)驗室檢測依據的(de)部分標準方法包括：

GB/T 21114-2019耐火材(cai)料 X射線熒光(guang)光(guang)譜化學分析 熔鑄玻璃片法。

YS/T 575.23-2009 鋁(lv)土礦(kuang)石化學(xue)分(fen)析方法 第23部分(fen)：X射(she)線(xian)熒光(guang)光(guang)譜法測定元素含(han)量。

GB/T 6609.30-2009 氧化鋁(lv)化學分析(xi)方法和(he)物理(li)性能測定方法 第(di)30部分：X射線熒光(guang)光(guang)譜法測定微量(liang)元素含量(liang)等。

在研究金屬、玻璃、地質、建筑材料等領域，X射線熒光光譜儀是較為(wei)常(chang)見(jian)的(de)(de)非破(po)壞(huai)性元素(su)分(fen)析方(fang)法，由(you)于(yu)可直接分(fen)析固體或者是液體試樣(yang)，進行非破(po)壞(huai)分(fen)析，適用場景較多，在元素(su)分(fen)析領域是一種(zhong)切實(shi)可行的(de)(de)檢測(ce)(ce)方(fang)法。實(shi)驗室(shi)X射(she)線(xian)熒光(guang)光(guang)譜儀XRF可以測(ce)(ce)量(liang)樣(yang)品(pin)中的(de)(de)金屬元素(su)組成，對送樣(yang)的(de)(de)需求需要進行進一步的(de)(de)溝通(tong)。