一、x射線熒光光譜儀測什么的

X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光(guang)(guang)譜(pu)(pu)儀），是一種快速的(de)、非破壞式的(de)物質測(ce)量(liang)(liang)方法(fa)。X射線(xian)熒光(guang)(guang)（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量(liang)(liang)X射線(xian)或伽瑪射線(xian)轟(hong)擊(ji)材料(liao)時(shi)激發出的(de)次(ci)級X射線(xian)。XRF用X光(guang)(guang)或其他激發源照射待分(fen)析樣品(pin)(pin)，樣品(pin)(pin)中的(de)元素之(zhi)(zhi)內層電子(zi)(zi)被(bei)擊(ji)出后(hou)，造成核外電子(zi)(zi)的(de)躍(yue)遷，在(zai)被(bei)激發的(de)電子(zi)(zi)返回基態的(de)時(shi)候，會放(fang)(fang)射出特征(zheng)X光(guang)(guang)；不(bu)同的(de)元素會放(fang)(fang)射出各自的(de)特征(zheng)X光(guang)(guang)，具有不(bu)同的(de)能量(liang)(liang)或波(bo)長特性。檢(jian)測(ce)器(qi)（Detector）接受(shou)這(zhe)些X光(guang)(guang)，儀器(qi)軟件系(xi)統將(jiang)其轉為對應的(de)信號。這(zhe)一現象(xiang)廣泛用于元素分(fen)析和(he)化學(xue)(xue)分(fen)析，特別是在(zai)研究(jiu)金屬，玻璃，陶瓷和(he)建(jian)筑(zhu)材料(liao)，以及(ji)在(zai)地球化學(xue)(xue)研究(jiu)、法(fa)醫學(xue)(xue)、電子(zi)(zi)產品(pin)(pin)進料(liao)品(pin)(pin)管(guan)（EURoHS）和(he)考古(gu)學(xue)(xue)等領域(yu)，在(zai)某種程(cheng)度上(shang)與原子(zi)(zi)吸收光(guang)(guang)譜(pu)(pu)儀互補，減(jian)少工廠附設(she)的(de)品(pin)(pin)管(guan)實驗室之(zhi)(zhi)分(fen)析人力投入。

該圖片由注冊用戶"天空之城"提供，版權聲明反饋

二、X射線熒光光譜儀如何檢測樣品中的金屬元素

當使(shi)用(yong)X射(she)(she)線(xian)(xian)光(guang)照(zhao)樣(yang)品時(shi)，樣(yang)品可以(yi)被(bei)激(ji)發出(chu)各種波長(chang)的熒(ying)光(guang)X射(she)(she)線(xian)(xian)，把混合的X射(she)(she)線(xian)(xian)按波長(chang)（或(huo)能(neng)量）分開(kai)，分別(bie)測(ce)量不同波長(chang)（或(huo)能(neng)量）的X射(she)(she)線(xian)(xian)的強度，就可以(yi)進行定(ding)性和定(ding)量分析，為(wei)此使(shi)用(yong)的儀(yi)器為(wei)X射(she)(she)線(xian)(xian)熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)（以(yi)下簡稱XRF）。

實(shi)驗(yan)室(shi)如(ru)何利用XRF這種較為成熟的(de)分析技術(shu)檢測(ce)固體樣(yang)(yang)品(pin)(pin)中的(de)金屬元素(su)？實(shi)驗(yan)室(shi)將拿到的(de)試樣(yang)(yang)過(guo)200目篩(shai)，按(an)照提供的(de)方法(fa)(fa)進行(xing)制樣(yang)(yang)，從中選擇能(neng)覆(fu)蓋分析元素(su)含量范圍并具有一定(ding)梯度(du)的(de)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)，經化(hua)學方法(fa)(fa)準(zhun)確(que)定(ding)值(zhi)后，與同(tong)樣(yang)(yang)粒度(du)的(de)3個標準(zhun)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)一起分別(bie)壓(ya)片(pian)用于建立(li)工(gong)作(zuo)曲線。

方法采用壓(ya)(ya)片(pian)法，根據不(bu)同的(de)壓(ya)(ya)力(li)對樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)進(jin)行壓(ya)(ya)片(pian)，做壓(ya)(ya)力(li)與(yu)樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)元素(su)強度試驗，確定壓(ya)(ya)力(li)和保壓(ya)(ya)時間(jian)。（分(fen)析(xi)合(he)金(jin)樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)過程中粒(li)(li)度效應是影(ying)響熒光光譜(pu)儀結(jie)果的(de)主(zhu)要(yao)(yao)主(zhu)要(yao)(yao)因(yin)素(su)之一(yi)，需要(yao)(yao)通過固定破(po)碎試樣(yang)(yang)(yang)(yang)的(de)克數(shu)與(yu)研(yan)磨(mo)時間(jian)來保持試樣(yang)(yang)(yang)(yang)與(yu)分(fen)析(xi)試樣(yang)(yang)(yang)(yang)粒(li)(li)度一(yi)致，確定研(yan)磨(mo)時間(jian)。）

輸(shu)入(ru)各元(yuan)素(su)(su)的化(hua)學(xue)值，用(yong)熒光(guang)光(guang)譜儀(yi)測定其強(qiang)(qiang)度，以元(yuan)素(su)(su)化(hua)學(xue)值為(wei)橫(heng)坐(zuo)(zuo)標，強(qiang)(qiang)度為(wei)縱坐(zuo)(zuo)標，分(fen)別建立一次作曲(qu)線，并(bing)(bing)得(de)到相(xiang)應的的回歸(gui)情(qing)況，得(de)到結果(guo)元(yuan)素(su)(su)的相(xiang)對(dui)標準偏差RSD<1％，這表明用(yong)XRF測定這些固體樣品(pin)金屬元(yuan)素(su)(su)有很好(hao)的分(fen)析精度。整個檢(jian)測過程快速(su)、準確，不需要化(hua)學(xue)方法(fa)對(dui)樣品(pin)進(jin)行前處理，同時可以實現(xian)多元(yuan)素(su)(su)分(fen)析，并(bing)(bing)可以替(ti)代(dai)復(fu)雜的檢(jian)測方法(fa)。

XRF適合用于元素分(fen)析和(he)化學分(fen)析，理(li)論上可(ke)以(yi)測定(ding)元素周期表中從(cong)F-U（除(chu)去(qu)惰(duo)性氣體(ti)一族）的元素，分(fen)析范圍(wei)廣(guang)，可(ke)分(fen)析濃度范圍(wei)從(cong)1μg/g～100%。可(ke)用于（但不(bu)限于）實驗室(shi)檢(jian)測依據的部分(fen)標準(zhun)方法包括(kuo)：

GB/T 21114-2019耐火(huo)材料 X射線熒(ying)光(guang)光(guang)譜(pu)化(hua)學分(fen)析 熔鑄玻璃片法。

YS/T 575.23-2009 鋁土礦石化(hua)學分(fen)析(xi)方法 第23部分(fen)：X射線熒光光譜(pu)法測定元(yuan)素(su)含量。

GB/T 6609.30-2009 氧化(hua)鋁化(hua)學分析方法和(he)物理(li)性能測(ce)定(ding)方法 第30部分：X射線熒光光譜法測(ce)定(ding)微量(liang)(liang)元素含量(liang)(liang)等(deng)。

在研究金屬、玻璃、地質、建筑材料等領域，X射線熒光光譜儀是較為(wei)常見的(de)(de)(de)非破壞性元素(su)分析方(fang)法，由于可(ke)直接分析固體或者(zhe)是液體試樣，進行非破壞分析，適用場景較多，在元素(su)分析領域是一種切(qie)實(shi)可(ke)行的(de)(de)(de)檢測(ce)方(fang)法。實(shi)驗室X射線熒光光譜儀XRF可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)樣品中(zhong)的(de)(de)(de)金屬元素(su)組成，對送樣的(de)(de)(de)需求需要進行進一步(bu)的(de)(de)(de)溝通。