一、x射線熒光光譜儀測什么的

X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光(guang)(guang)(guang)譜儀），是(shi)一(yi)種快速的(de)(de)(de)(de)、非破壞式的(de)(de)(de)(de)物(wu)質測量方法(fa)。X射(she)(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang)(guang)（X-rayfluorescence，XRF）是(shi)用(yong)高能量X射(she)(she)線(xian)(xian)或(huo)(huo)伽瑪射(she)(she)線(xian)(xian)轟擊材料時激發出的(de)(de)(de)(de)次級X射(she)(she)線(xian)(xian)。XRF用(yong)X光(guang)(guang)(guang)或(huo)(huo)其他激發源照(zhao)射(she)(she)待(dai)分(fen)析(xi)樣(yang)品，樣(yang)品中(zhong)的(de)(de)(de)(de)元(yuan)素(su)(su)之內層電子被擊出后(hou)，造成核外電子的(de)(de)(de)(de)躍遷，在(zai)被激發的(de)(de)(de)(de)電子返回(hui)基態的(de)(de)(de)(de)時候，會(hui)放射(she)(she)出特征(zheng)X光(guang)(guang)(guang)；不同(tong)的(de)(de)(de)(de)元(yuan)素(su)(su)會(hui)放射(she)(she)出各自的(de)(de)(de)(de)特征(zheng)X光(guang)(guang)(guang)，具(ju)有不同(tong)的(de)(de)(de)(de)能量或(huo)(huo)波長特性(xing)。檢測器(qi)（Detector）接受這些X光(guang)(guang)(guang)，儀器(qi)軟件系統將其轉為對(dui)應(ying)的(de)(de)(de)(de)信號。這一(yi)現象廣泛用(yong)于元(yuan)素(su)(su)分(fen)析(xi)和(he)化學分(fen)析(xi)，特別是(shi)在(zai)研(yan)究金屬，玻璃，陶瓷和(he)建筑(zhu)材料，以及在(zai)地球(qiu)化學研(yan)究、法(fa)醫學、電子產品進(jin)料品管（EURoHS）和(he)考古學等領(ling)域，在(zai)某種程度上與原子吸收光(guang)(guang)(guang)譜儀互補(bu)，減少(shao)工廠附設的(de)(de)(de)(de)品管實驗室(shi)之分(fen)析(xi)人力(li)投入。

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二、X射線熒光光譜儀如何檢測樣品中的金屬元素

當使用(yong)X射(she)(she)線光照(zhao)樣品時，樣品可以被(bei)激發出(chu)各(ge)種(zhong)波長的(de)(de)熒光X射(she)(she)線，把混合的(de)(de)X射(she)(she)線按波長（或能量(liang)）分(fen)(fen)開，分(fen)(fen)別測量(liang)不同波長（或能量(liang)）的(de)(de)X射(she)(she)線的(de)(de)強度，就可以進(jin)行(xing)定(ding)性(xing)和(he)定(ding)量(liang)分(fen)(fen)析，為(wei)此使用(yong)的(de)(de)儀(yi)器為(wei)X射(she)(she)線熒光光譜(pu)儀(yi)（以下簡(jian)稱XRF）。

實(shi)驗室如何利用XRF這(zhe)種較為(wei)成(cheng)熟的分(fen)析技術(shu)檢測固體樣(yang)(yang)品中的金屬元(yuan)(yuan)素？實(shi)驗室將拿到(dao)的試樣(yang)(yang)過200目篩，按(an)照(zhao)提供的方法進行制樣(yang)(yang)，從中選(xuan)擇(ze)能覆蓋分(fen)析元(yuan)(yuan)素含量范圍(wei)并具有一定梯度的樣(yang)(yang)品，經化(hua)學方法準(zhun)確定值后，與同樣(yang)(yang)粒度的3個標準(zhun)樣(yang)(yang)品一起分(fen)別(bie)壓片用于建(jian)立工作曲線(xian)。

方法采用壓片法，根據不(bu)同的壓力對(dui)樣(yang)(yang)品進行壓片，做壓力與樣(yang)(yang)品元素強度試(shi)驗，確定壓力和保壓時間(jian)。（分(fen)析合金樣(yang)(yang)品過程中粒度效應是影響(xiang)熒光光譜(pu)儀結果的主要(yao)主要(yao)因素之一，需要(yao)通過固定破碎試(shi)樣(yang)(yang)的克數與研磨時間(jian)來保持試(shi)樣(yang)(yang)與分(fen)析試(shi)樣(yang)(yang)粒度一致，確定研磨時間(jian)。）

輸入各元(yuan)素(su)(su)的化(hua)(hua)(hua)學(xue)值，用(yong)熒光光譜儀測(ce)(ce)定(ding)其(qi)強度，以元(yuan)素(su)(su)化(hua)(hua)(hua)學(xue)值為橫坐(zuo)(zuo)標，強度為縱坐(zuo)(zuo)標，分(fen)(fen)別建立一次(ci)作曲線，并得到(dao)相(xiang)應(ying)的的回歸情況，得到(dao)結果元(yuan)素(su)(su)的相(xiang)對標準偏差RSD<1％，這(zhe)表明用(yong)XRF測(ce)(ce)定(ding)這(zhe)些固體樣(yang)品金屬(shu)元(yuan)素(su)(su)有很好的分(fen)(fen)析精度。整個檢測(ce)(ce)過程(cheng)快速(su)、準確，不需要(yao)化(hua)(hua)(hua)學(xue)方法對樣(yang)品進行前(qian)處理，同(tong)時(shi)可以實現多元(yuan)素(su)(su)分(fen)(fen)析，并可以替(ti)代復雜的檢測(ce)(ce)方法。

XRF適合用于元素分(fen)析(xi)(xi)和化(hua)學(xue)分(fen)析(xi)(xi)，理論上可以(yi)測(ce)(ce)定元素周期表中(zhong)從(cong)F-U（除去(qu)惰性氣體(ti)一族(zu)）的元素，分(fen)析(xi)(xi)范(fan)圍(wei)廣，可分(fen)析(xi)(xi)濃度范(fan)圍(wei)從(cong)1μg/g～100%。可用于（但不限于）實驗室檢測(ce)(ce)依據的部分(fen)標準方法(fa)包(bao)括：

GB/T 21114-2019耐火材料 X射線熒(ying)光光譜化學分析 熔鑄玻(bo)璃片法。

YS/T 575.23-2009 鋁土礦石化(hua)學分析方(fang)法 第23部(bu)分：X射線熒光光譜法測定(ding)元素含量。

GB/T 6609.30-2009 氧化鋁化學分(fen)析方法(fa)和物(wu)理性能測(ce)定方法(fa) 第(di)30部分(fen)：X射線熒(ying)光(guang)光(guang)譜法(fa)測(ce)定微量元素含量等。

在研究金屬、玻璃、地質、建筑材料等領域，X射線熒光光譜儀是較為常見的(de)非破壞性元素分(fen)析(xi)方(fang)(fang)法(fa)，由于可(ke)(ke)直(zhi)接分(fen)析(xi)固體或者(zhe)是液體試樣，進行(xing)非破壞分(fen)析(xi)，適用場景較多，在元素分(fen)析(xi)領域(yu)是一種切實(shi)可(ke)(ke)行(xing)的(de)檢測(ce)方(fang)(fang)法(fa)。實(shi)驗室X射線熒光光譜儀XRF可(ke)(ke)以測(ce)量樣品中的(de)金(jin)屬元素組成(cheng)，對送(song)樣的(de)需求需要進行(xing)進一步的(de)溝通。