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光模塊測試方法有哪些 光模塊測試流程是什么

本文章由注冊用戶 淺嘗不止— 上傳提供 2023-07-12 評論 0
摘要:光模塊作為較敏感的光學器件,常常在使用過程中會出現很多問題,對于光模塊比較常見的問題,都有其相應的測試方法,如目測法看外觀、對比法測參數看差別、替換法替換元器件看參數變化、根據某種不良狀況確定出故障的電路區域、通過掛光模塊的結構判斷出故障的組成部分等,那么具體的光模塊測試流程是什么呢?一起到文中來看看吧!

一、光模塊測試方法有哪些

1、目測法看外觀

通過(guo)目測法看光模(mo)塊的(de)外觀,檢查模(mo)塊表面(mian)有(you)無明顯(xian)的(de)損(sun)壞痕跡(ji),再(zai)檢查元(yuan)器(qi)件有(you)沒有(you)裂開漏貼或連(lian)錫甚至是燒黑的(de)跡(ji)象。

2、對比法測參數看差別

如果目測法看不(bu)錯任何問題的(de)情況下,可(ke)(ke)以使用相(xiang)關的(de)檢測儀器(qi)分別(bie)檢測一塊(kuai)相(xiang)同的(de)新模塊(kuai)和(he)可(ke)(ke)能有故(gu)障的(de)該模塊(kuai),并(bing)且分為(wei)通電(dian)(dian)(dian)和(he)不(bu)通電(dian)(dian)(dian)兩種情況,檢查電(dian)(dian)(dian)路部(bu)位或元(yuan)器(qi)件的(de)電(dian)(dian)(dian)壓、阻值(zhi)和(he)波形等參數(shu),再(zai)對比新模塊(kuai)和(he)壞模塊(kuai)的(de)測試結果就可(ke)(ke)以判(pan)斷(duan)出問題。

3、替換法替換元器件看參數變化

如果對比出(chu)測(ce)試參數介(jie)紹有差異,可(ke)以用相同型(xing)號的(de)良品(pin)組(zu)件(jian)(jian)或元器(qi)(qi)件(jian)(jian)來替(ti)換可(ke)能有故障的(de)該模塊的(de)相應組(zu)件(jian)(jian)或元器(qi)(qi)件(jian)(jian),再次(ci)測(ce)試各項參數看是否(fou)恢復正常(chang)。

4、根據某種不良狀況確定出故障的電路區域

根(gen)據某種(zhong)不(bu)(bu)良狀(zhuang)況(kuang)確定出現故障的(de)電路(lu)區域,比如:光功率(lv)不(bu)(bu)良主要檢(jian)查發射區域,靈敏度(du)不(bu)(bu)良檢(jian)查接(jie)收區域等,這樣可以減少維修時(shi)間,提(ti)高效率(lv)。

5、通過掛光模塊的結構判斷出故障的組成部分

大家都知道光模塊主(zhu)要(yao)由TOSA組件(jian)、ROSA組件(jian)和PCBA板3部分組成(cheng),想要(yao)判斷出(chu)故障的組成(cheng)部分,有下(xia)面幾種方法來判斷:

(1)將TOSA組件和ROSA組件拆卸下來(lai),然后在(zai)組件測(ce)試(shi)板上測(ce)試(shi)其性能。

(2)通電情況(kuang)下,使(shi)用萬用表(biao)測(ce)各管腳(jiao)電壓,看電壓值是(shi)否(fou)正常;斷電情況(kuang)下,使(shi)用萬用表(biao)測(ce)管腳(jiao)跟管腳(jiao)引(yin)出的電路是(shi)否(fou)通路。

(3)根據不良(liang)狀況,測試相應的(de)(de)參(can)數(shu)(shu)看參(can)數(shu)(shu)的(de)(de)變化,比如(ru),不良(liang)原(yuan)因是"光功(gong)率小(xiao)",那么(me)可以測試模塊的(de)(de)功(gong)率,如(ru)果把功(gong)率調大功(gong)率計的(de)(de)讀數(shu)(shu)會增(zeng)大,同時偏(pian)置(zhi)電(dian)(dian)流BIAS值(zhi)也隨著增(zeng)大,工作電(dian)(dian)流增(zeng)大。這種變化說明PCBA電(dian)(dian)路(lu)是導(dao)通的(de)(de),驅動性能和(he)儲存性能也是沒有(you)(you)問題的(de)(de)。由此能夠初(chu)步判斷TOSA光功(gong)率不良(liang),PCBA板良(liang)好,但并不排除有(you)(you)PCBA不良(liang)的(de)(de)可能。

該圖片由注冊用戶"淺嘗不止—"提供,版權聲明反饋

二、光模塊測試流程是什么

1、首先(xian)測(ce)發射(she)光(guang)功率(lv)、接收靈敏(min)度、眼(yan)圖(tu)、消光(guang)比和(he)誤碼,需(xu)要用到的設備有光(guang)衰減器(qi)、光(guang)功率(lv)計、誤碼儀(通過速(su)率(lv)來(lai)調(diao)光(guang)功率(lv)和(he)靈敏(min)度)和(he)眼(yan)圖(tu)儀。

2、然后進行高低溫老化(hua)測試,檢(jian)驗產品穩定(ding)性(xing)。

3、上交換機測(ce)試(shi),檢測(ce)產品(pin)兼(jian)容性,保(bao)證兼(jian)容性。

4、最后就是在光(guang)纖(xian)端(duan)(duan)面(mian)檢測儀上進(jin)行端(duan)(duan)面(mian)檢測了,用(yong)清洗(xi)筆(bi)清洗(xi)端(duan)(duan)口,保(bao)持端(duan)(duan)口清潔,保(bao)證品質。

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