一、探傷儀的原理是什么
探傷儀檢(jian)測通常(chang)是(shi)對(dui)被測物(wu)體(ti)(ti)（比(bi)如(ru)工(gong)業材料、人(ren)體(ti)(ti)）發射(she)超(chao)聲，然后利(li)用(yong)(yong)其(qi)反射(she)、多普勒(le)效(xiao)應(ying)(ying)、透射(she)等來(lai)獲取被測物(wu)體(ti)(ti)內部(bu)(bu)的(de)信息并(bing)經過(guo)處理形成圖像。探傷儀其(qi)中多普勒(le)效(xiao)應(ying)(ying)法(fa)是(shi)利(li)用(yong)(yong)超(chao)聲在遇到(dao)運(yun)動的(de)物(wu)體(ti)(ti)時發生的(de)多普勒(le)頻移效(xiao)應(ying)(ying)來(lai)得出該物(wu)體(ti)(ti)的(de)運(yun)動方向(xiang)和速度等特性(xing)；透射(she)法(fa)則是(shi)通過(guo)分析超(chao)聲穿(chuan)透過(guo)被測物(wu)體(ti)(ti)之后的(de)變化而得出物(wu)體(ti)(ti)的(de)內部(bu)(bu)特性(xing)的(de)，其(qi)應(ying)(ying)用(yong)(yong)還處于研(yan)制階段。
二、探傷儀怎么使用
探(tan)傷(shang)儀(yi)五大常規(gui)方法(fa)是指(zhi)射線探(tan)傷(shang)法(fa)、超聲波(bo)探(tan)傷(shang)法(fa)、磁(ci)粉探(tan)傷(shang)法(fa)、渦流探(tan)傷(shang)法(fa)和滲透(tou)探(tan)傷(shang)法(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是利(li)用射(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)穿(chuan)(chuan)(chuan)透(tou)(tou)性(xing)和(he)(he)直(zhi)線(xian)(xian)性(xing)來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)方法(fa)。這(zhe)些射(she)(she)(she)線(xian)(xian)雖然不(bu)會像(xiang)可(ke)見光(guang)那樣憑肉眼(yan)就(jiu)(jiu)(jiu)能直(zhi)接(jie)(jie)察知，但它(ta)可(ke)使照(zhao)相底(di)片感(gan)光(guang)，也可(ke)用特殊(shu)的(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)器來(lai)接(jie)(jie)收(shou)。常用于(yu)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)有(you)x光(guang)和(he)(he)同位素發出(chu)的(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian)，分別稱為x光(guang)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)和(he)(he)γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。當這(zhe)些射(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)(chuan)過(guo)（照(zhao)射(she)(she)(she)）物(wu)(wu)質時(shi)(shi)，該物(wu)(wu)質的(de)(de)(de)密(mi)度(du)越大(da)(da)(da)，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)強(qiang)(qiang)度(du)減(jian)弱(ruo)得越多(duo)，即射(she)(she)(she)線(xian)(xian)能穿(chuan)(chuan)(chuan)透(tou)(tou)過(guo)該物(wu)(wu)質的(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就(jiu)(jiu)(jiu)越小。此時(shi)(shi)，若(ruo)用照(zhao)相底(di)片接(jie)(jie)收(shou)，則底(di)片的(de)(de)(de)感(gan)光(guang)量就(jiu)(jiu)(jiu)小；若(ruo)用儀器來(lai)接(jie)(jie)收(shou)，獲得的(de)(de)(de)信號就(jiu)(jiu)(jiu)弱(ruo)。因此，用射(she)(she)(she)線(xian)(xian)來(lai)照(zhao)射(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)零部(bu)(bu)件時(shi)(shi)，若(ruo)其(qi)內部(bu)(bu)有(you)氣(qi)孔(kong)、夾(jia)渣等缺(que)(que)(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)(chuan)過(guo)有(you)缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)路(lu)徑比沒(mei)有(you)缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)路(lu)徑所透(tou)(tou)過(guo)的(de)(de)(de)物(wu)(wu)質密(mi)度(du)要小得多(duo)，其(qi)強(qiang)(qiang)度(du)就(jiu)(jiu)(jiu)減(jian)弱(ruo)得少(shao)些，即透(tou)(tou)過(guo)的(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就(jiu)(jiu)(jiu)大(da)(da)(da)些，若(ruo)用底(di)片接(jie)(jie)收(shou)，則感(gan)光(guang)量就(jiu)(jiu)(jiu)大(da)(da)(da)些，就(jiu)(jiu)(jiu)可(ke)以從底(di)片上反映(ying)出(chu)缺(que)(que)(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)平面(mian)(mian)投影；若(ruo)用其(qi)它(ta)接(jie)(jie)收(shou)器也同樣可(ke)以用儀表(biao)來(lai)反映(ying)缺(que)(que)(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)平面(mian)(mian)投影和(he)(he)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)透(tou)(tou)過(guo)量。由(you)此可(ke)見，一般情(qing)況下，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是不(bu)易發現裂紋的(de)(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)對(dui)裂紋是不(bu)敏感(gan)的(de)(de)(de)。因此，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)對(dui)氣(qi)孔(kong)、夾(jia)渣、未(wei)焊透(tou)(tou)等體積(ji)型(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)最敏感(gan)。即射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)適宜用于(yu)體積(ji)型(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，而不(bu)適宜面(mian)(mian)積(ji)型(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。
2、超聲波探傷方法
人(ren)們(men)的(de)耳朵能(neng)(neng)(neng)直接(jie)接(jie)收到(dao)(dao)的(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)頻率范圍通常(chang)是20Hz到(dao)(dao)20kHz，即音(yin)（聲(sheng)(sheng)(sheng)）頻。頻率低(di)于20Hz的(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，高于20 kHz的(de)稱(cheng)為超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)。工業上常(chang)用數兆赫茲超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)來探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)頻率高，則傳播(bo)的(de)直線性強(qiang)，又易于在固體中傳播(bo)，并(bing)且遇到(dao)(dao)兩種不同(tong)介(jie)質形成的(de)界面(mian)時易于反射，這樣就可(ke)以(yi)用它來探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。通常(chang)用超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)(tan)頭(tou)與待探(tan)(tan)工件(jian)表面(mian)良好的(de)接(jie)觸，探(tan)(tan)頭(tou)則可(ke)有(you)效地向工件(jian)發射超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，并(bing)能(neng)(neng)(neng)接(jie)收（缺(que)(que)陷）界面(mian)反射來的(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，同(tong)時轉換(huan)成電信號，再傳輸給儀器進(jin)行處(chu)理。根(gen)據(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)在介(jie)質中傳播(bo)的(de)速度(du)（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)(sheng)速）和(he)傳播(bo)的(de)時間，就可(ke)知道缺(que)(que)陷的(de)位置。當缺(que)(que)陷越大(da)，反射面(mian)則越大(da)，其(qi)反射的(de)能(neng)(neng)(neng)量也就越大(da)，故可(ke)根(gen)據(ju)反射能(neng)(neng)(neng)量的(de)大(da)小來查知各缺(que)(que)陷（當量）的(de)大(da)小。常(chang)用的(de)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)波(bo)形有(you)縱波(bo)、橫(heng)波(bo)、表面(mian)波(bo)等，前二者適用于探(tan)(tan)測(ce)內部缺(que)(que)陷，后者適宜(yi)于探(tan)(tan)測(ce)表面(mian)缺(que)(que)陷，但對表面(mian)的(de)條件(jian)要求高。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是建(jian)立在漏磁(ci)原理基(ji)礎上的(de)一種磁(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)方法(fa)(fa)。當磁(ci)力線(xian)穿過鐵(tie)磁(ci)材料(liao)及(ji)其(qi)制品(pin)時(shi)，在其(qi)（磁(ci)性）不連續處將產(chan)生漏磁(ci)場，形成磁(ci)極。此時(shi)撒(sa)上干磁(ci)粉或(huo)澆(jiao)上磁(ci)懸液，磁(ci)極就會吸附(fu)磁(ci)粉，產(chan)生用(yong)肉(rou)眼(yan)能直接觀(guan)察的(de)明(ming)顯(xian)磁(ci)痕。因(yin)此，可借(jie)助(zhu)于(yu)該磁(ci)痕來顯(xian)示鐵(tie)磁(ci)材料(liao)及(ji)其(qi)制品(pin)的(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)情況。磁(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)可探(tan)(tan)(tan)測露(lu)出表(biao)面，用(yong)肉(rou)眼(yan)或(huo)借(jie)助(zhu)于(yu)放大(da)鏡也(ye)不能直接觀(guan)察到的(de)微小(xiao)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，也(ye)可探(tan)(tan)(tan)測未露(lu)出表(biao)面，而(er)是埋藏在表(biao)面下幾毫米的(de)近表(biao)面缺(que)(que)陷(xian)(xian)。用(yong)這種方法(fa)(fa)雖然也(ye)能探(tan)(tan)(tan)查氣孔、夾雜、未焊透(tou)等(deng)體積(ji)(ji)型(xing)(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，但對(dui)面積(ji)(ji)型(xing)(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)更靈敏，更適于(yu)檢查因(yin)淬火、軋制、鍛(duan)造、鑄(zhu)造、焊接、電鍍、磨(mo)削、疲勞等(deng)引起的(de)裂紋(wen)。
磁(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)(shang)中對缺(que)陷(xian)的顯(xian)示方法有多種，有用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示的，也有不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示的。用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示的稱為(wei)磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，因它顯(xian)示直觀(guan)、操作(zuo)簡(jian)單、人們樂(le)于(yu)使用(yong)(yong)，故它是最(zui)常用(yong)(yong)的方法之一。不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示的，習慣(guan)上稱為(wei)漏磁(ci)(ci)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，它常借助(zhu)于(yu)感(gan)應線圈、磁(ci)(ci)敏(min)管、霍(huo)爾元件等來反映缺(que)陷(xian)，它比磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)更衛(wei)生，但(dan)不如前者直觀(guan)。由于(yu)磁(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)(shang)主要(yao)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)來顯(xian)示缺(que)陷(xian)，因此(ci)，人們有時把磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)直接稱為(wei)磁(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，其設備(bei)稱為(wei)磁(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)(shang)設備(bei)。
4、渦流探傷方法
渦流(liu)探(tan)傷(shang)是(shi)由交(jiao)流(liu)電流(liu)產生的(de)(de)交(jiao)變磁場作用于(yu)待探(tan)傷(shang)的(de)(de)導電材(cai)料，感應出電渦流(liu)。如果材(cai)料中有缺(que)陷，它將(jiang)干(gan)擾所產生的(de)(de)電渦流(liu)，即(ji)形(xing)成干(gan)擾信(xin)號。用渦流(liu)探(tan)傷(shang)儀檢測出其干(gan)擾信(xin)號，就可知道缺(que)陷的(de)(de)狀況(kuang)。影(ying)響渦流(liu)的(de)(de)因素(su)很多(duo)(duo)，即(ji)是(shi)說渦流(liu)中載有豐富的(de)(de)信(xin)號，這(zhe)些信(xin)號與材(cai)料的(de)(de)很多(duo)(duo)因素(su)有關(guan)，如何將(jiang)其中有用的(de)(de)信(xin)號從諸(zhu)多(duo)(duo)的(de)(de)信(xin)號中一(yi)一(yi)分離出來，是(shi)渦流(liu)研究工作者的(de)(de)難題，多(duo)(duo)年來已(yi)經取得(de)了一(yi)些進展，在(zai)一(yi)定條件下可解決一(yi)些問題，但還遠(yuan)不能(neng)滿足現場的(de)(de)要求，有待于(yu)大力(li)發展。
渦流(liu)探(tan)(tan)傷(shang)的(de)顯著(zhu)特點是(shi)對(dui)導(dao)電材(cai)料就能起作用，而不一定是(shi)鐵磁(ci)材(cai)料，但對(dui)鐵磁(ci)材(cai)料的(de)效果較差(cha)。其次，待(dai)探(tan)(tan)工(gong)件表面的(de)光(guang)潔(jie)度、平整度、邊(bian)介等對(dui)渦流(liu)探(tan)(tan)傷(shang)都有(you)較大影響，因(yin)此(ci)常將(jiang)渦流(liu)探(tan)(tan)傷(shang)用于形(xing)狀(zhuang)較規則、表面較光(guang)潔(jie)的(de)銅(tong)管(guan)等非鐵磁(ci)性工(gong)件探(tan)(tan)傷(shang)。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是利用毛(mao)細現(xian)象來進行探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)方(fang)法。對(dui)于(yu)(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)光滑(hua)而清潔的(de)(de)零部(bu)件(jian)(jian)，用一(yi)種(zhong)帶色(se)（常為(wei)紅(hong)色(se)）或帶有(you)熒光的(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)性(xing)很強的(de)(de)液(ye)(ye)體，涂覆(fu)于(yu)(yu)(yu)待探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)零部(bu)件(jian)(jian)的(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)。若(ruo)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)有(you)肉眼不能(neng)直接(jie)察知(zhi)的(de)(de)微裂(lie)紋，由(you)于(yu)(yu)(yu)該液(ye)(ye)體的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)性(xing)很強，它(ta)將沿(yan)著裂(lie)紋滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)(dao)其(qi)根部(bu)。然(ran)后將表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)洗去，再涂上(shang)對(dui)比度較(jiao)(jiao)大(da)的(de)(de)顯(xian)示(shi)液(ye)(ye)（常為(wei)白色(se)）。放置片刻(ke)后，由(you)于(yu)(yu)(yu)裂(lie)紋很窄，毛(mao)細現(xian)象作用顯(xian)著，原(yuan)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)(dao)裂(lie)紋內的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)將上(shang)升到(dao)(dao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)并擴散，在白色(se)的(de)(de)襯(chen)底上(shang)顯(xian)出(chu)較(jiao)(jiao)粗的(de)(de)紅(hong)線，從而顯(xian)示(shi)出(chu)裂(lie)紋露于(yu)(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)形狀(zhuang)，因此(ci)，常稱為(wei)著色(se)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。若(ruo)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)采用的(de)(de)是帶熒光的(de)(de)液(ye)(ye)體，由(you)毛(mao)細現(xian)象上(shang)升到(dao)(dao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)液(ye)(ye)體，則會在紫外燈照射下發出(chu)熒光，從而更(geng)能(neng)顯(xian)示(shi)出(chu)裂(lie)紋露于(yu)(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)形狀(zhuang)，故常常又將此(ci)時的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)直接(jie)稱為(wei)熒光探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。此(ci)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)方(fang)法也可(ke)用于(yu)(yu)(yu)金屬和非(fei)金屬表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。其(qi)使用的(de)(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)液(ye)(ye)劑(ji)有(you)較(jiao)(jiao)大(da)氣味，常有(you)一(yi)定毒性(xing)。
探傷儀除以上五(wu)大常規(gui)方(fang)法外(wai)，近年來又有了紅外(wai)、聲發射(she)等一些新的(de)探傷方(fang)法。
