一、探傷儀的原理是什么
探傷儀檢測通(tong)常是(shi)對被(bei)測物(wu)體（比如工業材料、人體）發(fa)射(she)超聲(sheng)，然(ran)后(hou)利(li)用(yong)其反射(she)、多(duo)(duo)普(pu)勒效(xiao)應(ying)、透(tou)射(she)等(deng)來獲取被(bei)測物(wu)體內部的(de)信息并(bing)經過(guo)處理(li)形成圖像。探傷儀其中(zhong)多(duo)(duo)普(pu)勒效(xiao)應(ying)法是(shi)利(li)用(yong)超聲(sheng)在遇到運動的(de)物(wu)體時發(fa)生的(de)多(duo)(duo)普(pu)勒頻移(yi)效(xiao)應(ying)來得(de)出(chu)該物(wu)體的(de)運動方向(xiang)和速度等(deng)特性(xing)(xing)；透(tou)射(she)法則是(shi)通(tong)過(guo)分(fen)析超聲(sheng)穿透(tou)過(guo)被(bei)測物(wu)體之后(hou)的(de)變化而(er)得(de)出(chu)物(wu)體的(de)內部特性(xing)(xing)的(de)，其應(ying)用(yong)還處于研制階(jie)段。
二、探傷儀怎么使用
探(tan)傷(shang)(shang)儀五大常規方法(fa)(fa)(fa)是指射線(xian)探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)、超聲波探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)、磁粉探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)、渦流探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)和(he)滲透探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是利用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿(chuan)透(tou)性(xing)和(he)直線(xian)(xian)(xian)(xian)性(xing)來(lai)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法。這(zhe)(zhe)些射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖(sui)然不(bu)(bu)會像可(ke)(ke)(ke)見光那樣憑肉眼就(jiu)能直接(jie)(jie)察知，但它可(ke)(ke)(ke)使(shi)照(zhao)相底片(pian)感(gan)光，也可(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)(shou)器來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)。常(chang)用(yong)(yong)于探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有x光和(he)同(tong)位素發出的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)，分(fen)別稱為(wei)x光探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。當這(zhe)(zhe)些射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)（照(zhao)射(she)(she)(she)(she)）物質(zhi)時(shi)，該(gai)物質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)密(mi)度(du)越大(da)，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強度(du)減弱(ruo)得(de)越多(duo)(duo)，即(ji)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能穿(chuan)透(tou)過(guo)(guo)該(gai)物質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)強度(du)就(jiu)越小。此時(shi)，若(ruo)用(yong)(yong)照(zhao)相底片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，則底片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)光量(liang)就(jiu)小；若(ruo)用(yong)(yong)儀(yi)(yi)器來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，獲得(de)的(de)(de)(de)(de)(de)信號就(jiu)弱(ruo)。因(yin)此，用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)照(zhao)射(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件時(shi)，若(ruo)其(qi)(qi)內部(bu)有氣孔(kong)、夾渣等缺(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)有缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)徑(jing)比沒有缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)徑(jing)所透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)物質(zhi)密(mi)度(du)要小得(de)多(duo)(duo)，其(qi)(qi)強度(du)就(jiu)減弱(ruo)得(de)少些，即(ji)透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)強度(du)就(jiu)大(da)些，若(ruo)用(yong)(yong)底片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，則感(gan)光量(liang)就(jiu)大(da)些，就(jiu)可(ke)(ke)(ke)以從底片(pian)上反映(ying)出缺(que)陷(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)投影；若(ruo)用(yong)(yong)其(qi)(qi)它接(jie)(jie)收(shou)(shou)器也同(tong)樣可(ke)(ke)(ke)以用(yong)(yong)儀(yi)(yi)表來(lai)反映(ying)缺(que)陷(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)投影和(he)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)過(guo)(guo)量(liang)。由此可(ke)(ke)(ke)見，一般情況下，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是不(bu)(bu)易發現裂紋的(de)(de)(de)(de)(de)，或者說(shuo)，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對裂紋是不(bu)(bu)敏感(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)。因(yin)此，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對氣孔(kong)、夾渣、未焊透(tou)等體(ti)積(ji)型(xing)缺(que)陷(xian)最敏感(gan)。即(ji)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)適(shi)宜(yi)用(yong)(yong)于體(ti)積(ji)型(xing)缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，而不(bu)(bu)適(shi)宜(yi)面(mian)積(ji)型(xing)缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們的(de)(de)(de)(de)(de)(de)耳朵能(neng)(neng)直接接收到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)頻率范圍通(tong)常(chang)是20Hz到20kHz，即(ji)音(yin)（聲(sheng)）頻。頻率低于20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱為(wei)次(ci)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，高(gao)于20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱為(wei)超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)。工業上(shang)常(chang)用數兆赫(he)茲(zi)超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)來(lai)(lai)探(tan)傷(shang)。超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)頻率高(gao)，則(ze)傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)直線(xian)性強，又易于在固(gu)體中(zhong)傳(chuan)(chuan)播(bo)，并且(qie)遇到兩種不同(tong)介質(zhi)形成(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)(mian)時易于反射(she)(she)，這(zhe)樣就可以用它(ta)來(lai)(lai)探(tan)傷(shang)。通(tong)常(chang)用超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)探(tan)頭與待探(tan)工件(jian)表(biao)面(mian)(mian)良好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)接觸(chu)，探(tan)頭則(ze)可有(you)(you)效地向工件(jian)發射(she)(she)超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，并能(neng)(neng)接收（缺陷(xian)(xian)）界面(mian)(mian)反射(she)(she)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，同(tong)時轉換成(cheng)電信(xin)號，再傳(chuan)(chuan)輸(shu)給儀器進(jin)行處(chu)理。根據超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)在介質(zhi)中(zhong)傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)速度（常(chang)稱聲(sheng)速）和傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)時間，就可知道缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)位置。當缺陷(xian)(xian)越(yue)大，反射(she)(she)面(mian)(mian)則(ze)越(yue)大，其反射(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)量(liang)也(ye)就越(yue)大，故可根據反射(she)(she)能(neng)(neng)量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小(xiao)(xiao)來(lai)(lai)查知各缺陷(xian)(xian)（當量(liang)）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小(xiao)(xiao)。常(chang)用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)波(bo)(bo)(bo)(bo)形有(you)(you)縱波(bo)(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)(bo)、表(biao)面(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)(bo)等，前二者適用于探(tan)測(ce)內(nei)部缺陷(xian)(xian)，后(hou)者適宜于探(tan)測(ce)表(biao)面(mian)(mian)缺陷(xian)(xian)，但對表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)條件(jian)要求高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷是建(jian)立在漏磁(ci)(ci)(ci)原理(li)基礎(chu)上(shang)的(de)(de)一種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探傷方法。當磁(ci)(ci)(ci)力(li)線穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及其制(zhi)品時，在其（磁(ci)(ci)(ci)性）不連續(xu)處(chu)將產生漏磁(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)極。此時撒(sa)上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)或(huo)澆上(shang)磁(ci)(ci)(ci)懸(xuan)液，磁(ci)(ci)(ci)極就會吸附磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)，產生用肉眼能直(zhi)接(jie)觀(guan)察的(de)(de)明顯磁(ci)(ci)(ci)痕。因此，可借助(zhu)于該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及其制(zhi)品的(de)(de)缺陷(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷法可探測(ce)露(lu)出表(biao)面，用肉眼或(huo)借助(zhu)于放大鏡也不能直(zhi)接(jie)觀(guan)察到的(de)(de)微小缺陷(xian)，也可探測(ce)未露(lu)出表(biao)面，而(er)是埋(mai)藏在表(biao)面下(xia)幾毫米的(de)(de)近(jin)表(biao)面缺陷(xian)。用這種(zhong)方法雖然也能探查氣(qi)孔、夾雜、未焊(han)透等(deng)體積型(xing)缺陷(xian)，但對面積型(xing)缺陷(xian)更(geng)靈敏，更(geng)適于檢(jian)查因淬火(huo)、軋(ya)制(zhi)、鍛(duan)造、鑄造、焊(han)接(jie)、電鍍(du)、磨削、疲勞等(deng)引起(qi)的(de)(de)裂紋。
磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)中對缺陷(xian)的(de)(de)(de)(de)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)方法有(you)多種，有(you)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)，也有(you)不用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)。用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)，因它(ta)(ta)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)直(zhi)(zhi)觀、操作簡(jian)單(dan)、人們(men)樂于(yu)(yu)使用(yong)，故(gu)它(ta)(ta)是最常(chang)用(yong)的(de)(de)(de)(de)方法之一。不用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)，習(xi)慣上稱(cheng)為(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)，它(ta)(ta)常(chang)借助于(yu)(yu)感應線圈、磁(ci)(ci)(ci)敏管(guan)、霍爾元件等來(lai)反映缺陷(xian)，它(ta)(ta)比磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)更衛(wei)生(sheng)，但不如前者直(zhi)(zhi)觀。由于(yu)(yu)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)主要用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)來(lai)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)缺陷(xian)，因此，人們(men)有(you)時把磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)直(zhi)(zhi)接(jie)稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)，其設備稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)設備。
4、渦流探傷方法
渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探傷是由交流(liu)(liu)(liu)電流(liu)(liu)(liu)產生的(de)(de)(de)(de)交變磁場(chang)作用(yong)于待探傷的(de)(de)(de)(de)導電材料，感應出電渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)。如(ru)果材料中有缺(que)陷，它將干(gan)擾(rao)所產生的(de)(de)(de)(de)電渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)，即形成干(gan)擾(rao)信號(hao)(hao)。用(yong)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探傷儀檢測出其(qi)(qi)干(gan)擾(rao)信號(hao)(hao)，就可(ke)知道(dao)缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)狀(zhuang)況。影響(xiang)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)的(de)(de)(de)(de)因素很多(duo)(duo)(duo)，即是說渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)中載有豐富(fu)的(de)(de)(de)(de)信號(hao)(hao)，這(zhe)些(xie)信號(hao)(hao)與(yu)材料的(de)(de)(de)(de)很多(duo)(duo)(duo)因素有關(guan)，如(ru)何將其(qi)(qi)中有用(yong)的(de)(de)(de)(de)信號(hao)(hao)從諸多(duo)(duo)(duo)的(de)(de)(de)(de)信號(hao)(hao)中一(yi)(yi)一(yi)(yi)分(fen)離(li)出來(lai)，是渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)研(yan)究工作者的(de)(de)(de)(de)難題(ti)，多(duo)(duo)(duo)年來(lai)已經取得了一(yi)(yi)些(xie)進展(zhan)(zhan)，在一(yi)(yi)定(ding)條件(jian)下可(ke)解決(jue)一(yi)(yi)些(xie)問題(ti)，但還遠不能(neng)滿(man)足現場(chang)的(de)(de)(de)(de)要求，有待于大力發展(zhan)(zhan)。
渦流(liu)(liu)探(tan)傷(shang)(shang)的顯著特點(dian)是對導電材(cai)(cai)料(liao)(liao)就(jiu)能起(qi)作(zuo)用(yong)，而(er)不一定是鐵磁材(cai)(cai)料(liao)(liao)，但對鐵磁材(cai)(cai)料(liao)(liao)的效果較(jiao)差。其次，待(dai)探(tan)工件表面(mian)的光(guang)潔(jie)度、平(ping)整度、邊介等對渦流(liu)(liu)探(tan)傷(shang)(shang)都有較(jiao)大影響，因此常將渦流(liu)(liu)探(tan)傷(shang)(shang)用(yong)于(yu)形狀較(jiao)規則、表面(mian)較(jiao)光(guang)潔(jie)的銅管等非鐵磁性工件探(tan)傷(shang)(shang)。
5、滲透探傷方法
滲(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)是(shi)利用(yong)毛細(xi)現(xian)(xian)象來進行探(tan)傷(shang)的方法。對(dui)于(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)光滑而清潔的零部件，用(yong)一種帶色（常為紅色）或帶有(you)熒(ying)光的、滲(shen)透(tou)(tou)性很強(qiang)的液(ye)(ye)體(ti)(ti)，涂覆于(yu)待探(tan)零部件的表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)。若(ruo)(ruo)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)有(you)肉眼(yan)不能直接(jie)察知(zhi)的微裂紋，由于(yu)該液(ye)(ye)體(ti)(ti)的滲(shen)透(tou)(tou)性很強(qiang)，它將(jiang)沿著(zhu)裂紋滲(shen)透(tou)(tou)到(dao)(dao)(dao)其根(gen)部。然后將(jiang)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)洗去，再涂上(shang)對(dui)比度較(jiao)(jiao)大的顯(xian)(xian)示液(ye)(ye)（常為白色）。放置片刻后，由于(yu)裂紋很窄，毛細(xi)現(xian)(xian)象作(zuo)用(yong)顯(xian)(xian)著(zhu)，原滲(shen)透(tou)(tou)到(dao)(dao)(dao)裂紋內(nei)的滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)將(jiang)上(shang)升到(dao)(dao)(dao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)并擴散，在白色的襯底上(shang)顯(xian)(xian)出(chu)較(jiao)(jiao)粗(cu)的紅線，從而顯(xian)(xian)示出(chu)裂紋露于(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的形(xing)狀，因此，常稱為著(zhu)色探(tan)傷(shang)。若(ruo)(ruo)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)采用(yong)的是(shi)帶熒(ying)光的液(ye)(ye)體(ti)(ti)，由毛細(xi)現(xian)(xian)象上(shang)升到(dao)(dao)(dao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的液(ye)(ye)體(ti)(ti)，則會在紫外燈照射(she)下發出(chu)熒(ying)光，從而更能顯(xian)(xian)示出(chu)裂紋露于(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的形(xing)狀，故常常又(you)將(jiang)此時(shi)的滲(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)直接(jie)稱為熒(ying)光探(tan)傷(shang)。此探(tan)傷(shang)方法也(ye)可(ke)用(yong)于(yu)金(jin)屬(shu)和非金(jin)屬(shu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)探(tan)傷(shang)。其使用(yong)的探(tan)傷(shang)液(ye)(ye)劑有(you)較(jiao)(jiao)大氣(qi)味，常有(you)一定毒性。
探傷儀除以上五大常規方法外，近年(nian)來又有了紅外、聲發(fa)射(she)等一(yi)些新的(de)探傷方法。
