一、探傷儀的原理是什么
探傷儀檢(jian)測(ce)通常是(shi)對被測(ce)物體(ti)(ti)（比(bi)如工業材料、人體(ti)(ti)）發射(she)超(chao)聲(sheng)，然(ran)后利用(yong)(yong)其反射(she)、多(duo)(duo)普勒效(xiao)應、透射(she)等來(lai)獲(huo)取被測(ce)物體(ti)(ti)內部(bu)的(de)(de)信息并經過(guo)處理形成圖像(xiang)。探傷儀其中多(duo)(duo)普勒效(xiao)應法是(shi)利用(yong)(yong)超(chao)聲(sheng)在遇到運動的(de)(de)物體(ti)(ti)時發生(sheng)的(de)(de)多(duo)(duo)普勒頻移(yi)效(xiao)應來(lai)得出(chu)該物體(ti)(ti)的(de)(de)運動方向和速度等特性(xing)；透射(she)法則(ze)是(shi)通過(guo)分析超(chao)聲(sheng)穿透過(guo)被測(ce)物體(ti)(ti)之(zhi)后的(de)(de)變化而得出(chu)物體(ti)(ti)的(de)(de)內部(bu)特性(xing)的(de)(de)，其應用(yong)(yong)還處于研(yan)制階段。
二、探傷儀怎么使用
探(tan)傷(shang)(shang)(shang)儀五大常(chang)規方法(fa)(fa)是(shi)指(zhi)射(she)線(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)(fa)、超聲(sheng)波探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)(fa)、磁(ci)粉探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)(fa)、渦流探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)(fa)和滲(shen)透探(tan)傷(shang)(shang)(shang)法(fa)(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是(shi)利用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)穿(chuan)透(tou)(tou)(tou)性(xing)和直(zhi)線(xian)(xian)(xian)性(xing)來(lai)(lai)(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)方(fang)法。這(zhe)些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)會像(xiang)可見光(guang)(guang)(guang)那樣憑(ping)肉眼(yan)就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)能(neng)直(zhi)接(jie)察知，但它(ta)可使(shi)照(zhao)相底(di)片(pian)感光(guang)(guang)(guang)，也(ye)可用(yong)(yong)特殊的(de)接(jie)收(shou)(shou)器來(lai)(lai)(lai)接(jie)收(shou)(shou)。常(chang)用(yong)(yong)于探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)有x光(guang)(guang)(guang)和同位素發(fa)出的(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)，分別(bie)稱為x光(guang)(guang)(guang)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。當這(zhe)些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)（照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)質(zhi)(zhi)時(shi)，該物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)密度越大，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)強度減弱(ruo)(ruo)得(de)越多(duo)(duo)，即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)透(tou)(tou)(tou)過(guo)該物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)強度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)越小(xiao)。此(ci)時(shi)，若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)照(zhao)相底(di)片(pian)接(jie)收(shou)(shou)，則(ze)底(di)片(pian)的(de)感光(guang)(guang)(guang)量就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)小(xiao)；若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)儀器來(lai)(lai)(lai)接(jie)收(shou)(shou)，獲得(de)的(de)信(xin)號就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)弱(ruo)(ruo)。因(yin)此(ci)，用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)來(lai)(lai)(lai)照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)零部(bu)件時(shi)，若(ruo)(ruo)其內部(bu)有氣(qi)孔、夾渣(zha)等(deng)缺(que)(que)(que)陷，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)有缺(que)(que)(que)陷的(de)路(lu)徑比沒有缺(que)(que)(que)陷的(de)路(lu)徑所透(tou)(tou)(tou)過(guo)的(de)物(wu)質(zhi)(zhi)密度要小(xiao)得(de)多(duo)(duo)，其強度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)減弱(ruo)(ruo)得(de)少些(xie)(xie)，即(ji)透(tou)(tou)(tou)過(guo)的(de)強度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)大些(xie)(xie)，若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)底(di)片(pian)接(jie)收(shou)(shou)，則(ze)感光(guang)(guang)(guang)量就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)大些(xie)(xie)，就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)可以從底(di)片(pian)上反映出缺(que)(que)(que)陷垂(chui)直(zhi)于射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)向的(de)平面投(tou)影；若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)其它(ta)接(jie)收(shou)(shou)器也(ye)同樣可以用(yong)(yong)儀表(biao)來(lai)(lai)(lai)反映缺(que)(que)(que)陷垂(chui)直(zhi)于射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)向的(de)平面投(tou)影和射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)透(tou)(tou)(tou)過(guo)量。由此(ci)可見，一(yi)般情況(kuang)下(xia)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是(shi)不(bu)易發(fa)現裂紋的(de)，或者說，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對(dui)裂紋是(shi)不(bu)敏(min)感的(de)。因(yin)此(ci)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對(dui)氣(qi)孔、夾渣(zha)、未焊(han)透(tou)(tou)(tou)等(deng)體(ti)積型缺(que)(que)(que)陷最敏(min)感。即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)適宜用(yong)(yong)于體(ti)積型缺(que)(que)(que)陷探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，而不(bu)適宜面積型缺(que)(que)(que)陷探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們(men)的耳(er)朵能直(zhi)(zhi)接(jie)接(jie)收(shou)到(dao)的聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的頻(pin)(pin)率(lv)范圍通(tong)常(chang)是20Hz到(dao)20kHz，即音（聲(sheng)(sheng)(sheng)）頻(pin)(pin)。頻(pin)(pin)率(lv)低(di)于(yu)20Hz的稱(cheng)為(wei)次聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，高于(yu)20 kHz的稱(cheng)為(wei)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工業上常(chang)用(yong)數兆赫茲超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)來探(tan)傷。超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻(pin)(pin)率(lv)高，則(ze)傳播(bo)(bo)的直(zhi)(zhi)線性強，又易(yi)于(yu)在(zai)固體(ti)中傳播(bo)(bo)，并且遇到(dao)兩種不同(tong)介質形成(cheng)的界(jie)面(mian)(mian)時易(yi)于(yu)反射，這樣就(jiu)可(ke)(ke)以用(yong)它來探(tan)傷。通(tong)常(chang)用(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)頭(tou)與待(dai)探(tan)工件(jian)表面(mian)(mian)良好(hao)的接(jie)觸，探(tan)頭(tou)則(ze)可(ke)(ke)有效(xiao)地向工件(jian)發射超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，并能接(jie)收(shou)（缺陷）界(jie)面(mian)(mian)反射來的超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，同(tong)時轉(zhuan)換成(cheng)電信號，再傳輸給儀器(qi)進行處理。根據(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)介質中傳播(bo)(bo)的速度（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)(sheng)速）和傳播(bo)(bo)的時間，就(jiu)可(ke)(ke)知道缺陷的位置。當缺陷越大(da)，反射面(mian)(mian)則(ze)越大(da)，其反射的能量也就(jiu)越大(da)，故(gu)可(ke)(ke)根據(ju)反射能量的大(da)小(xiao)來查知各(ge)缺陷（當量）的大(da)小(xiao)。常(chang)用(yong)的探(tan)傷波(bo)(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)、表面(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)等，前(qian)二者適(shi)用(yong)于(yu)探(tan)測(ce)內部缺陷，后者適(shi)宜于(yu)探(tan)測(ce)表面(mian)(mian)缺陷，但對表面(mian)(mian)的條件(jian)要求高。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探傷是(shi)(shi)建(jian)立在(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理(li)基礎上(shang)(shang)的(de)一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探傷方法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及其(qi)制品時，在(zai)其(qi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連續處將產生(sheng)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)。此時撒上(shang)(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)或(huo)澆上(shang)(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液(ye)，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)就會(hui)吸(xi)附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)，產生(sheng)用肉眼能(neng)直接(jie)(jie)觀察的(de)明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因(yin)此，可(ke)借助于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來(lai)顯(xian)示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及其(qi)制品的(de)缺(que)陷情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探傷法(fa)可(ke)探測露出(chu)表(biao)面(mian)，用肉眼或(huo)借助于(yu)放(fang)大鏡也(ye)不(bu)能(neng)直接(jie)(jie)觀察到的(de)微小缺(que)陷，也(ye)可(ke)探測未露出(chu)表(biao)面(mian)，而(er)是(shi)(shi)埋藏在(zai)表(biao)面(mian)下幾毫米的(de)近表(biao)面(mian)缺(que)陷。用這種方法(fa)雖然也(ye)能(neng)探查氣(qi)孔、夾(jia)雜、未焊(han)(han)透(tou)等(deng)體(ti)積(ji)型(xing)缺(que)陷，但對面(mian)積(ji)型(xing)缺(que)陷更靈敏，更適于(yu)檢查因(yin)淬火、軋制、鍛(duan)造、鑄造、焊(han)(han)接(jie)(jie)、電鍍、磨削、疲勞(lao)等(deng)引起的(de)裂紋。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探傷(shang)(shang)中對缺陷的(de)(de)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)方法(fa)有(you)(you)多種，有(you)(you)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，也有(you)(you)不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)。用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)稱為磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探傷(shang)(shang)，因(yin)它顯示(shi)(shi)(shi)(shi)直(zhi)觀、操作簡(jian)單、人(ren)們樂于(yu)(yu)使用(yong)(yong)，故它是最常(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)方法(fa)之一。不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，習慣上稱為漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)探傷(shang)(shang)，它常(chang)借助(zhu)于(yu)(yu)感應(ying)線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)敏管(guan)、霍(huo)爾元件等來反映缺陷，它比(bi)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探傷(shang)(shang)更衛(wei)生，但不如前(qian)者直(zhi)觀。由(you)于(yu)(yu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探傷(shang)(shang)主要用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來顯示(shi)(shi)(shi)(shi)缺陷，因(yin)此，人(ren)們有(you)(you)時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探傷(shang)(shang)直(zhi)接稱為磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探傷(shang)(shang)，其設(she)備稱為磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探傷(shang)(shang)設(she)備。
4、渦流探傷方法
渦(wo)流(liu)探(tan)(tan)傷是由交流(liu)電流(liu)產(chan)生的(de)(de)交變磁場作用(yong)于(yu)待(dai)(dai)探(tan)(tan)傷的(de)(de)導電材料(liao)，感應出電渦(wo)流(liu)。如(ru)果材料(liao)中有(you)(you)(you)缺(que)陷，它將干擾所產(chan)生的(de)(de)電渦(wo)流(liu)，即形成干擾信(xin)號。用(yong)渦(wo)流(liu)探(tan)(tan)傷儀檢測出其(qi)干擾信(xin)號，就可(ke)知道缺(que)陷的(de)(de)狀況。影響渦(wo)流(liu)的(de)(de)因(yin)(yin)素很(hen)多(duo)，即是說(shuo)渦(wo)流(liu)中載有(you)(you)(you)豐(feng)富的(de)(de)信(xin)號，這些信(xin)號與材料(liao)的(de)(de)很(hen)多(duo)因(yin)(yin)素有(you)(you)(you)關，如(ru)何將其(qi)中有(you)(you)(you)用(yong)的(de)(de)信(xin)號從諸多(duo)的(de)(de)信(xin)號中一一分離出來，是渦(wo)流(liu)研究工作者(zhe)的(de)(de)難題，多(duo)年來已經取得了一些進展，在一定條件下(xia)可(ke)解決(jue)一些問(wen)題，但還遠不能滿足現(xian)場的(de)(de)要求，有(you)(you)(you)待(dai)(dai)于(yu)大力發展。
渦流探傷(shang)(shang)的(de)(de)顯著特(te)點是(shi)對(dui)(dui)導電材(cai)(cai)料(liao)就能起作用，而不一定是(shi)鐵磁材(cai)(cai)料(liao)，但(dan)對(dui)(dui)鐵磁材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)效果較差。其次，待探工件表面的(de)(de)光潔度(du)、平(ping)整度(du)、邊(bian)介等對(dui)(dui)渦流探傷(shang)(shang)都有(you)較大影響(xiang)，因(yin)此常將渦流探傷(shang)(shang)用于形狀(zhuang)較規則、表面較光潔的(de)(de)銅管等非(fei)鐵磁性工件探傷(shang)(shang)。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)是利用(yong)毛(mao)細(xi)現象(xiang)來進行探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)方法(fa)。對于(yu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)光滑(hua)而(er)清潔(jie)的(de)(de)零部(bu)(bu)件(jian)，用(yong)一種帶色（常(chang)為紅色）或帶有(you)(you)熒光的(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)性很(hen)強的(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)(ti)，涂覆于(yu)待探(tan)零部(bu)(bu)件(jian)的(de)(de)表(biao)面(mian)(mian)(mian)。若表(biao)面(mian)(mian)(mian)有(you)(you)肉眼不能直接察知的(de)(de)微(wei)裂(lie)(lie)(lie)紋，由(you)于(yu)該液(ye)(ye)體(ti)(ti)的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)性很(hen)強，它將(jiang)沿(yan)著裂(lie)(lie)(lie)紋滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)其根部(bu)(bu)。然后將(jiang)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)洗(xi)去，再涂上對比度較(jiao)大(da)的(de)(de)顯(xian)示液(ye)(ye)（常(chang)為白色）。放置片刻后，由(you)于(yu)裂(lie)(lie)(lie)紋很(hen)窄，毛(mao)細(xi)現象(xiang)作用(yong)顯(xian)著，原滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)裂(lie)(lie)(lie)紋內(nei)的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)將(jiang)上升到(dao)表(biao)面(mian)(mian)(mian)并擴散，在(zai)白色的(de)(de)襯底上顯(xian)出(chu)(chu)較(jiao)粗(cu)的(de)(de)紅線(xian)，從而(er)顯(xian)示出(chu)(chu)裂(lie)(lie)(lie)紋露于(yu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)形狀，因此(ci)(ci)，常(chang)稱為著色探(tan)傷(shang)(shang)。若滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)采用(yong)的(de)(de)是帶熒光的(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)(ti)，由(you)毛(mao)細(xi)現象(xiang)上升到(dao)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)(ti)，則會在(zai)紫外燈(deng)照射(she)下發(fa)出(chu)(chu)熒光，從而(er)更能顯(xian)示出(chu)(chu)裂(lie)(lie)(lie)紋露于(yu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)形狀，故常(chang)常(chang)又將(jiang)此(ci)(ci)時的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)直接稱為熒光探(tan)傷(shang)(shang)。此(ci)(ci)探(tan)傷(shang)(shang)方法(fa)也可(ke)用(yong)于(yu)金屬(shu)和非金屬(shu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)探(tan)傷(shang)(shang)。其使(shi)用(yong)的(de)(de)探(tan)傷(shang)(shang)液(ye)(ye)劑有(you)(you)較(jiao)大(da)氣味(wei)，常(chang)有(you)(you)一定(ding)毒(du)性。
探傷儀除以上五大常規(gui)方法(fa)外，近年來又(you)有了(le)紅外、聲發射等一些新的(de)探(tan)傷方法(fa)。
